JTAG(Joint Test Action Group)은 전자 장치의 디버깅과 프로그래밍을 위한 표준 인터페이스이다. 이 표준은 1985년에 개발되었으며, 이후 전자 회로의 테스트, 검증 및 프로그래밍을 위한 중요한 도구로 자리잡았다. JTAG 인터페이스는 주로 임베디드 시스템 및 집적 회로(IC)에 사용되며, 여러 가지 프로세서, FPGA(Field-Programmable Gate Array) 및 디지털 회로에서 널리 활용된다.

JTAG의 가장 큰 특징 중 하나는 고속 및 비파괴적인 테스트가 가능하다는 점이다. JTAG를 통해 직접 하드웨어에 접근할 수 있어, 실시간으로 디버깅 및 프로그래밍이 가능하다. 이 과정은 일반적으로 테스트 액세스 포인트(TAP)라는 하드웨어 구조를 통해 수행된다. TAP는 JTAG 인터페이스의 핵심 구성 요소로, 이 포인트를 통해 데이터를 전송하고 제어 신호를 관리한다.

JTAG 프로토콜은 기본적으로 직렬 통신 방식으로 구성된다. 이 방식에 따라, JTAG는 TMS(Test Mode Select), TCK(Test Clock), TDI(Test Data In), TDO(Test Data Out)의 네 가지 주요 신호를 사용하여 작동한다. TMS는 테스트 모드를 선택하는 신호이며, TCK는 클럭 신호로, TDI는 입력 데이터를 제공하고, TDO는 출력 데이터를 전달하는 역할을 한다. 이러한 신호를 통해 JTAG는 탐색기와 피검사기 간의 통신을 가능하게 한다.

JTAG는 디버깅 외에도 여러 다른 용도로 사용된다. 예를 들어, 보드 제조 후 최종 검증 및 품질 관리를 위해 사용되며, 소프트웨어 업데이트 및 모델 교체에도 활용된다. JTAG의 다양한 응용 분야 덕분에, 현대 전자 기기의 개발 및 유지보수 과정에서 필수적인 요소로 자리잡았다. 이를 통해 엔지니어들은 보다 신속하고 효율적으로 제품을 개발하고, 오류를 수정할 수 있는 능력을 키울 수 있다.